Metóda testovania pre pevné kondenzátory

1. Detekcia malých kondenzátorov pod 10pf: V dôsledku malej kapacity pevných kondenzátorov pod 10pf, použitie multimetra na meranie, môže iba kvalitatívne skontrolovať únik, vnútorné skraty alebo javy rozkladu. Pri meraní je možné použiť multimeter s rozsahom R × 10K a dve sondy môžu byť pripojené k ktoréhokoľvek kolíka kondenzátora. Hodnota odporu by mala byť nekonečná. Ak je hodnota odporu (húpací ukazovateľ doprava) nula, naznačuje, že kondenzátor je poškodený únikom alebo vnútorným rozpadom.
2. Testovanie fixných kondenzátorov s 10pf ~ 001 μf: určením, či existuje jav nabíjania, je možné posúdiť kvalitu. Multimeter je nastavený na prevodový stupeň R × 1K. Hodnoty beta oboch tranzistorov sú nad 100 a prienikový prúd by mal byť malý. 3DG6 a ďalšie modely kremíkových tród sa môžu použiť na vytvorenie kompozitných tranzistorov. Červené a čierne sondy multimetra sú spojené s emitorom E a zberateľom C kompozitnej trubice. V dôsledku amplifikačného účinku kompozitného tranzistora sa amplifikuje proces nabíjania a vypúšťania nameraného kondenzátora, čo zvyšuje amplitúdu multimetrového ukazovateľa a uľahčuje pozorovanie.
Je potrebné poznamenať, že počas testovacích operácií, najmä pri meraní kondenzátorov s menšími kapacitou, by sa mali kolíky testovaného kondenzátora opakovane prepínať na kontaktné body A a B, aby sa jasne videli výkyv multimetrového ukazovateľa. Pre pevné kondenzátory nad 001 μF sa môže rozsah r × 10K multimetra použiť na priame otestovanie, či kondenzátor má proces nabíjania a či existuje vnútorný skrat alebo únik. Kapacitu kondenzátora sa dá odhadnúť na základe amplitúdy ukazovateľa, ktorý sa húpal doprava.